作者：李安虎 日期：2018-11-19 01:22:15
《双棱镜多模式扫描理论与技术》是国内外首部系统介绍双棱镜多模式扫描理论与技术的专著。从原理上揭示了双棱镜多模式扫描机制，建立了双棱镜多模式扫描理论模型和实现技术，阐述了多模式扫描参数匹配、多模式扫描轨迹、扫描范围和精度、扫描盲区和非线性等问题。解决了双棱镜多模式扫描逆问题，提出了多种逆向解算法，分析了双棱镜多模式扫描的光束性质，并开展了双棱镜扫描的系统设计和性能测试研究。《双棱镜多模式扫描理论与技术》给出了大量双棱镜多模式扫描的计算和分析实例，原创了多种双棱镜扫描装置，为双棱镜多模式扫描技术的开发和应用奠定了基础。
《双棱镜多模式扫描理论与技术》可以为光电扫描技术开发提供支持，也可以为高校、科研及企事业单位的光电爱好者提供参考。